Авторизация
Lost your password? Please enter your email address. You will receive a link and will create a new password via email.
После регистрации вы можете задавать вопросы и отвечать на них, зарабатывая деньги. Ознакомьтесь с правилами, будем рады видеть вас в числе наших авторов!
Вы должны войти или зарегистрироваться, чтобы добавить ответ.
Формула АФМ (англ. Atomic Force Microscopy) представляет собой метод исследования поверхности материалов на нанометровом уровне. Он основан на использовании зонда, который сканирует поверхность образца, измеряя взаимодействие между зондом и поверхностью. Формула АФМ позволяет получить информацию о топографии, механических свойствах и электрических свойствах поверхности материалов.